Laboratorio di Diffrazione di Raggi X
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Ente di Afferenza
Università degli Studi di Cagliari
Area / Struttura
Dipartimento di Fisica
Sede
Cittadella Universitaria di Monserrato
Responsabile Laboratorio
Alessandra Geddo Lehmann
Descrizione
Il laboratorio di diffrazione di raggi X (X ray diffraction XRD) ospita un diffrattometro per la caratterizzazione di film policristallini ed epitassiali (per misure di spessore, rugosità, grado di deformazione epitassiale) e un diffrattometro per polveri policristalline (per l'identificazione di fasi e l'affinamento di strutture col metodo di Rietveld e Rietveld quantitativo).
Attività rivolte alle imprese,
enti pubblici, cittadini
enti pubblici, cittadini
Partecipazione a progetti nazionali di ricerca in partenariato
Partecipazione a progetti internazionali di ricerca in partenariato
Didattica Universitaria
Partecipazione a progetti internazionali di ricerca in partenariato
Didattica Universitaria
Attività rivolte ai ricercatori
Partecipazione a progetti nazionali di ricerca in partenariato
Partecipazione a progetti internazionali di ricerca in partenariato
Partecipazione a progetti internazionali di ricerca in partenariato
Servizi del Laboratorio
Consulenza e analisi dati XRD
Servizio offerto all'esterno con tariffario: NO
Analisi dei dati raccolti in altri laboratori.
Strumenti utilizzati: Software specifici
Misure e analisi XRD su film sottili
Servizio offerto all'esterno con tariffario: NO
Misure XRD su film sottili policristallini ed epitassiali.
Strumenti utilizzati: Diffrattometro
Misure e analisi XRD su polveri
Servizio offerto all'esterno con tariffario: NO
Misure XRD su polveri policristalline.
Strumenti utilizzati: Diffrattometro
Strumenti del Laboratorio
Diffrattometro Bruker D8 Discover
Diffrattometro con sorgente Cu k alpha, per misure di diffrazione ad alta risoluzione su film epitassiali sottili ed ultrasottili (sino a 5 nanometri di spessore), per i quali può effettuare scansioni del reticolo reciproco monodimensionali e bidimensionali (mappe del reciproco). Il diffrattometro consente anche la caratterizzazione di film policristallini in modalità bassa risoluzione.
Diffrattometro Siemens D 5000
Diffrattometro a raggi X per polveri con sorgente Cu k alpha, portacampione rotante, monocromatiore sul fascio primario. Effettua inoltre misure su film sottili policristallini.
Modalità di accesso
Il laboratorio è disponibile su prenotazione.
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Dove si trova
Monserrato, Cittadella Universitaria di Monserrato, S.S. 554 bivio per Sestu.