Analisi termoponderale e termodifferenziale TG/DSC.

Strumenti utilizzati: Analizzatore termodifferenziale e termoponderale

Deposizione di film sottili su manufatti mediante emissione di atomi o ioni (polverizzazione catodica).

Strumenti utilizzati: Sistema di sputtering

La diffrazione di raggi X di polveri permette di quantificare le varie componenti di un campione solido, e di ricavare informazioni sulla struttura cristallina e sulla dimensione dei cristalliti. Consente il riconoscimento delle fasi mineralogiche presenti in una miscela.

Strumenti utilizzati: Diffrattometro a raggi X

Caratterizzazione qualitativa di sostanze solide e analisi elementare, con la possibilità di rilevare anche la presenza di elementi in tracce; caratterizzazione quali-quantitativa delle leghe metalliche e per la determinazione della purezza dei metalli.

Strumenti utilizzati: Microscopio elettronico a scansione (SEM); Microsonda EDS

Permette di ottenere informazioni sulla struttura dei composti attraverso lo studio dello spettro di assorbimento, originato dai moti di vibrazione molecolari. L'accopppiamento di un micorscopio permette di eseguire misure su campioni o parti di campione di dimensioni molto piccole fino a 10 µm.

Strumenti utilizzati: Microscopio Micro-FTIR

Misura di porosità mediante intrusione forzata di mercurio (MIP).

Strumenti utilizzati: Porosimetro

Misura rugosità superficiale mediante rugosimetro con campo di misura 250 µm.

Strumenti utilizzati: Rugosimetro

Interpretazione mineralogica e petrografica mediante lo studio di sezioni sottili in microscopia ottica in luce polarizzata di malte, cementi, stucchi etc.

Strumenti utilizzati: Microscopio in luce polarizzata in trasmissione

Interpretazione mineralogica e petrografica mediante lo studio di sezioni sottili in microscopia ottica in luce polarizzata di leghe metalliche.

Strumenti utilizzati: Microscopio in luce polarizzata in riflessione

Trattamenti termici fino a 1600°C mediante forno programmabile.

Strumenti utilizzati: Forno

 Consente di misurare le variazioni di massa e gli effetti termici nell'intervallo di temperatura -150°C e 2400°C. I sistemi portacampione intercambiabili consentono di ottimizzare il sistema a seconda delle aree di applicazione (misure TG, TG-DTA e TG-DSC). L'analisi dei dati di misura viene effettuate tramite un PC standard e un software operante in ambiente Windows.

Il Rigaku Miniflex II può essere utilizzato per una varietà di applicazioni dal confronto dei pattern di diffrazione di materiali policristallini, quali campioni di polvere e piastre metalliche, all'analisi qualitativa e quantitativa e gestione della qualità delle materie prime e dei prodotti. Questo sistema Miniflex offre anche un sistema di correzione dell'angolo in tempo reale, un portacampioni singolo, un caricatore automatizzato a sei campioni (utilizzato in funzionamento standard), così come un monocromatore addizionale che cattura i raggi X diversi da Cu Kα per uso in analisi.

Il microscopio elettronico a scansione (SEM) fornisce informazioni con alta risoluzione sulle superfici e sui materiali con una qualità di contrasto superiore. Esso è ampiamente utilizzati nella microscopia elettronica e in diversi campi di applicazione come la nanotecnologia, l'analisi dei materiali, l'analisi dei guasti dei semiconduttori, le scienze della vita e nei controlli di qualità.

Lo strumento permette di analizzare campioni senza la necessità di utilizzare un detector ad azoto liquido. La tecnologia Imaging consente di analizzare i campioni con estrema sensibilità spaziale, fino a 2µ, e di effettuare mappature anche di 1 cm2 in tempi brevissimi. È possibile poi elaborare immagini relative alla composizione chimica del campione ed alla distribuzione dei sui costituenti, anche in modo totalmente automatico. Tramite la microscopia Imaging è possibile effettuare l'analisi semi-quantitativa dei componenti di una compressa farmaceutica, senza dover effettuare calibrazioni.

Sistema di microanalisi in dispersione di energia (EDS) per analisi composizionali puntuali e a mappe.

Il porosimetro AutoPore IV è in grado di misurare pori con diametri compresi tra 0.003 e 360 µm. La pressione controllata può variare di 0.05 psia tra 0.2 e 50 psia. Pressione massima 60.000 psia. Raccoglie i dati ad altissima risoluzione essendo capace di rilevare variazioni di volume per intrusione e per estrusione di mercurio minori di 0.1µl.